SN74BCT8374ADW资料datasheet下载供应代理-114ic电子网

首页 >SN74BCT8374ADW>规格书列表

型号	下载订购	功能描述	制造商上传企业	LOGO
SN74BCT8374ADW	文件：512.25 Kbytes Page：27 Pages	丝印：BCT8374A；Package：SOIC；SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS Members of the Texas Instruments SCOPE  Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F374 and ’BCT374 in the Normal-Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operatio 文件：512.25 Kbytes 页数：27 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74BCT8374ADW	文件：474.07 Kbytes Page：26 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 文件：474.07 Kbytes 页数：26 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74BCT8374ADW	文件：644.36 Kbytes Page：28 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 文件：644.36 Kbytes 页数：28 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74BCT8374ADW.A	文件：512.25 Kbytes Page：27 Pages	丝印：BCT8374A；Package：SOIC；SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS Members of the Texas Instruments SCOPE  Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F374 and ’BCT374 in the Normal-Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operatio 文件：512.25 Kbytes 页数：27 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74BCT8374ADWE4	文件：474.07 Kbytes Page：26 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 文件：474.07 Kbytes 页数：26 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74BCT8374ADWE4	文件：644.36 Kbytes Page：28 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 文件：644.36 Kbytes 页数：28 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74BCT8374ADWG4	文件：644.36 Kbytes Page：28 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 文件：644.36 Kbytes 页数：28 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74BCT8374ADWR	文件：474.07 Kbytes Page：26 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 文件：474.07 Kbytes 页数：26 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74BCT8374ADWR	文件：644.36 Kbytes Page：28 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 文件：644.36 Kbytes 页数：28 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74BCT8374ADWRE4	文件：474.07 Kbytes Page：26 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 文件：474.07 Kbytes 页数：26 Pages	TI 德州仪器	TI

产品属性

产品编号：
SN74BCT8374ADW
制造商：
Texas Instruments
类别：
集成电路（IC） > 专用逻辑器件
系列：
74BCT
包装：
卷带（TR）剪切带（CT）Digi-Reel® 得捷定制卷带
逻辑类型：
扫描测试设备，带 D 型边沿触发式触发器
供电电压：
4.5V ~ 5.5V
位数：
8
工作温度：
0°C ~ 70°C
安装类型：
表面贴装型
封装/外壳：
24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）
供应商器件封装：
24-SOIC
描述：
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

供应商	型号	品牌	批号	封装	库存	备注	价格
深圳市高捷芯城科技有限公司	SN74BCT8374ADW	TI(德州仪器)	24+	SOP24300mil	924	只做原装,提供一站式配单服务,代工代料。BOM配单	询价
深圳市弘为电子有限公司	SN74BCT8374ADW	TEXASINSTRU	24+	原封装	1580	原装现货假一罚十	询价
深圳市一线半导体有限公司	SN74BCT8374ADW		24+		3000	自己现货	询价
深圳市鼎盛源芯科技有限公司	SN74BCT8374ADW	TI	16+	原厂封装	10000	全新原装正品,代理优势渠道供应,欢迎来电咨询	询价
瑞航达科技(深圳)有限公司	SN74BCT8374ADW	TI	16+	SOIC	10000	原装正品	询价
中天科工半导体（深圳）有限公司	SN74BCT8374ADW	TI	20+	24SOIC	53650	TI原装主营-可开原型号增税票	询价
瀚佳科技(深圳)有限公司	SN74BCT8374ADW	Texas Instruments	24+	24-SOIC	56200	一级代理/放心采购	询价
艾睿（深圳）半导体有限公司	SN74BCT8374ADW	TI/德州仪器	2447	24SOIC	100500	一级代理专营品牌!原装正品,优势现货,长期排单到货	询价
深圳市科雨电子有限公司	SN74BCT8374ADW	TI	25+	SOP-24	932	就找我吧!--邀您体验愉快问购元件!	询价
讯运(深圳/上海)电子有限公司	SN74BCT8374ADW	TI(德州仪器)	2021+	SOIC-24	499		询价

更多SN74BCT8374ADW供应商更新时间2025-12-1 10:27:00

客户服务网站合作

Tel：0755 8246 9263
Email：kf＠114ic.com
投诉建议：kf@114ic.com

Copyright © 2003-2025 114ic.com All Rights Reserved 粤ICP备05011613号粤公网安备 44030402000933号