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SN74BCT8374ADWRE4

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

文件:644.36 Kbytes 页数:28 Pages

TI

德州仪器

SN74BCT8374ADWRG4

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

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TI

德州仪器

SN74BCT8374ADW

Package:24-SOIC(0.295",7.50mm 宽);包装:卷带(TR)剪切带(CT)Digi-Reel® 得捷定制卷带 类别:集成电路(IC) 专用逻辑器件 描述:IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

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德州仪器

SN74BCT8374ADWRE4

Package:24-SOIC(0.295",7.50mm 宽);包装:卷带(TR) 类别:集成电路(IC) 专用逻辑器件 描述:IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

TI

德州仪器

SN74BCT8374ADWRG4

Package:24-SOIC(0.295",7.50mm 宽);包装:管件 类别:集成电路(IC) 专用逻辑器件 描述:IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

TI

德州仪器

产品属性

  • 产品编号:

    SN74BCT8374ADW

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 类别:

    集成电路(IC) > 专用逻辑器件

  • 系列:

    74BCT

  • 包装:

    卷带(TR)剪切带(CT)Digi-Reel® 得捷定制卷带

  • 逻辑类型:

    扫描测试设备,带 D 型边沿触发式触发器

  • 供电电压:

    4.5V ~ 5.5V

  • 位数:

    8

  • 工作温度:

    0°C ~ 70°C

  • 安装类型:

    表面贴装型

  • 封装/外壳:

    24-SOIC(0.295",7.50mm 宽)

  • 供应商器件封装:

    24-SOIC

  • 描述:

    IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

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更多SN74BCT8374ADW供应商 更新时间2025-12-1 10:27:00