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SN74BCT8374ADWE4	文件：474.07 Kbytes Page：26 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 文件：474.07 Kbytes 页数：26 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74BCT8374ADWE4	文件：644.36 Kbytes Page：28 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 文件：644.36 Kbytes 页数：28 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74C912N	文件：0 bytes Page：0 Pages	DIP	NS 上传：深圳市欧立现代科技有限公司	NS
SN74CB3Q3245PWR	文件：0 bytes Page：0 Pages	TSSOP-20	TI 德州仪器上传：深圳市科睿涛电子有限公司	TI
SN74CB3Q3253RGYR	文件：0 bytes Page：0 Pages	QFN16	TI 德州仪器上传：深圳市河锋鑫科技有限公司	TI

详细参数

型号：
SN74BCT8374ADWE4
功能描述：
特定功能逻辑 Device w/Octal D-Typ Edge-Trig Flip-Flop
RoHS：
否
制造商：
Texas Instruments
系列：
SN74ABTH18502A
工作电源电压：
5 V
封装/箱体：
LQFP-64
封装：
Tube

供应商	型号	品牌	批号	封装	库存	备注	价格
深圳诚思涵科技有限公司	SN74BCT8374ADWE4	TexasInstruments	18+	ICSCANTESTDEVICEW/FF24-S	6800	公司原装现货/欢迎来电咨询!	询价
深圳市弘为电子有限公司	SN74BCT8374ADWR	TEXASINSTRU	24+	原装进口原厂原包接受订货	54402	原装现货假一罚十	询价
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深圳市河锋鑫科技有限公司	SN74BCT8374ADWR	TI	22+	24SOIC	9000	原厂渠道,现货配单	询价
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深圳市比特福电子有限公司	SN74BCT8374ADWR	Texas Instruments	24+	/	3000	全新、原装	询价

更多SN74BCT8374ADWE4供应商更新时间2026-2-9 15:14:00

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