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SN74BCT8374ADWRE4集成电路(IC)的专用逻辑器件规格书PDF中文资料

厂商型号 |
SN74BCT8374ADWRE4 |
参数属性 | SN74BCT8374ADWRE4 封装/外壳为24-SOIC(0.295",7.50mm 宽);包装为卷带(TR);类别为集成电路(IC)的专用逻辑器件;产品描述:IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC |
功能描述 | SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS |
封装外壳 | 24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) |
文件大小 |
474.07 Kbytes |
页面数量 |
26 页 |
生产厂商 | Texas Instruments |
企业简称 |
TI【德州仪器】 |
中文名称 | 美国德州仪器公司官网 |
原厂标识 | |
数据手册 | |
更新时间 | 2025-8-3 23:00:00 |
人工找货 | SN74BCT8374ADWRE4价格和库存,欢迎联系客服免费人工找货 |
产品属性
- 产品编号:
SN74BCT8374ADWRE4
- 制造商:
Texas Instruments
- 类别:
集成电路(IC) > 专用逻辑器件
- 系列:
74BCT
- 包装:
卷带(TR)
- 逻辑类型:
扫描测试设备,带 D 型边沿触发式触发器
- 供电电压:
4.5V ~ 5.5V
- 位数:
8
- 工作温度:
0°C ~ 70°C
- 安装类型:
表面贴装型
- 封装/外壳:
24-SOIC(0.295",7.50mm 宽)
- 供应商器件封装:
24-SOIC
- 描述:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
供应商 | 型号 | 品牌 | 批号 | 封装 | 库存 | 备注 | 价格 |
---|---|---|---|---|---|---|---|
TI/德州仪器 |
24+ |
NA/ |
7541 |
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TI |
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