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SN74BCT8374A	文件：512.25 Kbytes Page：27 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS Members of the Texas Instruments SCOPE  Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F374 and ’BCT374 in the Normal-Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operatio 文件：512.25 Kbytes 页数：27 Pages	TI 德州仪器	TI
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技术参数

IOL (Max) (mA)：
64
IOH (Max) (mA)：
-15
Operating temperature range (C)：
0 to 70
Rating：
Catalog

供应商	型号	品牌	批号	封装	库存	备注	价格
深圳市恒科翔业电子有限公司	SN74BCT8374A	TI德州仪器	22+		24000	原装正品现货,实单可谈,量大价优	询价
深圳市弘为电子有限公司	SN74BCT8374ADW	TEXASINSTRU	24+	原封装	1580	原装现货假一罚十	询价
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