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SN74BCT8373ADWR	文件：473.69 Kbytes Page：26 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 文件：473.69 Kbytes 页数：26 Pages	TI 德州仪器	TI
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SN74BCT8373ADWRG4	文件：100 bytes Page：1 Pages	Package：24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）；包装：管件类别：集成电路（IC）专用逻辑器件描述：IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC	TI 德州仪器	TI

产品属性

产品编号：
SN74BCT8373ADWR
制造商：
Texas Instruments
类别：
集成电路（IC） > 专用逻辑器件
系列：
74BCT
包装：
卷带（TR）
逻辑类型：
扫描测试设备，带 D 型锁存器
供电电压：
4.5V ~ 5.5V
位数：
8
工作温度：
0°C ~ 70°C
安装类型：
表面贴装型
封装/外壳：
24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）
供应商器件封装：
24-SOIC
描述：
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

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