订购数量 | 价格 |
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1+ |
- 厂家型号:
SN74BCT8373ADWR
- 制造商:
- 库存数量:
0
- 类别:
- 封装外壳:
24-SOIC(0.295",7.50mm 宽)
- 包装:
卷带(TR)
- 安装类型:
表面贴装型
- 更新时间:
2024-5-30 14:00:00
订购数量 | 价格 |
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1+ |
0
24-SOIC(0.295",7.50mm 宽)
卷带(TR)
表面贴装型
2024-5-30 14:00:00
原厂料号:SN74BCT8373ADWR品牌:Texas Instruments
资料说明:IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
SN74BCT8373ADWR是集成电路(IC) > 专用逻辑器件。制造商TI/德州仪器生产封装24-SOIC(0.295",7.50mm 宽)的SN74BCT8373ADWR专用逻辑器件专用逻辑 IC 设计提供应用特定的逻辑输出类型,例如 BCD 速率倍增、可寻址扫描端口、总线终端阵列、CML 驱动器、比较器、ABT 扫描测试、二进制全加法器、互补对加逆变器、可配置缓冲器、触点颤动消除器、晶体振荡器、延迟元件、差分接收器、LVTTL 到 GTLP 收发器、存储器解码器、电源良好检测器和分频器。
描述
SN74BCT8373ADWR
Texas Instruments
集成电路(IC) > 专用逻辑器件
74BCT
卷带(TR)
扫描测试设备,带 D 型锁存器
4.5V ~ 5.5V
8
0°C ~ 70°C
表面贴装型
24-SOIC(0.295",7.50mm 宽)
24-SOIC
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
供应商 | 型号 | 品牌 | 批号 | 封装 | 库存 | 备注 | 价格 |
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TI |
21+ |
sop |
3200 |
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询价 | ||
TEXASI |
2020+ |
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TEXASINST |
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Texas Instruments |
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