SN74BCT8244ANT_集成电路(IC) 专用逻辑器件-德州仪器

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原厂料号:SN74BCT8244ANT品牌:Texas Instruments

资料说明:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

SN74BCT8244ANT是集成电路(IC) > 专用逻辑器件。制造商TI/德州仪器生产封装24-DIP(0.300",7.62mm)的SN74BCT8244ANT专用逻辑器件专用逻辑 IC 设计提供应用特定的逻辑输出类型,例如 BCD 速率倍增、可寻址扫描端口、总线终端阵列、CML 驱动器、比较器、ABT 扫描测试、二进制全加法器、互补对加逆变器、可配置缓冲器、触点颤动消除器、晶体振荡器、延迟元件、差分接收器、LVTTL 到 GTLP 收发器、存储器解码器、电源良好检测器和分频器。

  • 芯片型号:

    sn74bct8244ant

  • 规格书:

    原厂下载 下载

  • 企业简称:

    TI【德州仪器】详情

  • 厂商全称:

    Texas Instruments

  • 中文名称:

    美国德州仪器公司

  • 资料说明:

    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

产品属性

  • 类型

    描述

  • 产品编号:

    SN74BCT8244ANT

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 类别:

    集成电路(IC) > 专用逻辑器件

  • 系列:

    74BCT

  • 包装:

    卷带(TR)

  • 逻辑类型:

    扫描测试设备,带缓冲器

  • 供电电压:

    4.5V ~ 5.5V

  • 位数:

    8

  • 工作温度:

    0°C ~ 70°C

  • 安装类型:

    通孔

  • 封装/外壳:

    24-DIP(0.300",7.62mm)

  • 供应商器件封装:

    24-PDIP

  • 描述:

    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

供应商 型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
Texas Instruments
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