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SN74BCT8373DWR	文件：293.27 Kbytes Page：21 Pages	SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 文件：293.27 Kbytes 页数：21 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74BCT8373NT	文件：293.27 Kbytes Page：21 Pages	SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 文件：293.27 Kbytes 页数：21 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74BCT8373	文件：293.27 Kbytes Page：21 Pages	SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 文件：293.27 Kbytes 页数：21 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74BCT8373A	文件：473.69 Kbytes Page：26 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES 文件：473.69 Kbytes 页数：26 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74BCT8373A	文件：499.03 Kbytes Page：27 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F373 and BCT373 in the Normal-Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operation 文件：499.03 Kbytes 页数：27 Pages	TI 德州仪器	TI

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