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SN74BCT8373ANT

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES

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TI

德州仪器

SN74BCT8373ANTE4

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES

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德州仪器

SN74BCT8373ANT

Package:24-DIP(0.300",7.62mm);包装:卷带(TR) 类别:集成电路(IC) 专用逻辑器件 描述:IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

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德州仪器

SN74BCT8373DW

SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE LATCHES

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德州仪器

SN74BCT8373DWR

SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE LATCHES

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德州仪器

SN74BCT8373NT

SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE LATCHES

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德州仪器

产品属性

  • 产品编号:

    SN74BCT8373ANT

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 类别:

    集成电路(IC) > 专用逻辑器件

  • 系列:

    74BCT

  • 包装:

    卷带(TR)

  • 逻辑类型:

    扫描测试设备,带 D 型锁存器

  • 供电电压:

    4.5V ~ 5.5V

  • 位数:

    8

  • 工作温度:

    0°C ~ 70°C

  • 安装类型:

    通孔

  • 封装/外壳:

    24-DIP(0.300",7.62mm)

  • 供应商器件封装:

    24-PDIP

  • 描述:

    IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

供应商型号品牌批号封装库存备注价格
TI
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Texas Instruments(德州仪器)
24+
24-DIP (0.300, 7.62mm)
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Texas Instruments
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24-DIP(0.300 7.62mm)
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