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SN74ABT8245DWG4

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS

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德州仪器

SN74ABT8245DWR

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SN74ABT8245DWRE4

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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS

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SN74ABT8245DWRG4

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SN74ABT8245DW

Package:24-SOIC(0.295",7.50mm 宽);包装:卷带(TR)剪切带(CT)Digi-Reel® 得捷定制卷带 类别:集成电路(IC) 专用逻辑器件 描述:IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC

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SN74ABT8245DWG4

Package:24-SOIC(0.295",7.50mm 宽);包装:管件 类别:集成电路(IC) 专用逻辑器件 描述:IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

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SN74ABT8245DWR

Package:24-SOIC(0.295",7.50mm 宽);包装:卷带(TR)剪切带(CT)Digi-Reel® 得捷定制卷带 类别:集成电路(IC) 专用逻辑器件 描述:IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC

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产品属性

  • 产品编号:

    SN74ABT8245DW

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 类别:

    集成电路(IC) > 专用逻辑器件

  • 系列:

    74ABT

  • 包装:

    卷带(TR)剪切带(CT)Digi-Reel® 得捷定制卷带

  • 逻辑类型:

    扫描测试设备,带总线收发器

  • 供电电压:

    4.5V ~ 5.5V

  • 位数:

    8

  • 工作温度:

    -40°C ~ 85°C

  • 安装类型:

    表面贴装型

  • 封装/外壳:

    24-SOIC(0.295",7.50mm 宽)

  • 供应商器件封装:

    24-SOIC

  • 描述:

    IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC

供应商型号品牌批号封装库存备注价格
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TEXASINSTRU
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更多SN74ABT8245DW供应商 更新时间2026-2-4 16:00:00