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SN74ABT8952DW	文件：100 bytes Page：1 Pages	包装：管件封装/外壳：28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）类别：集成电路（IC）专用逻辑器件描述：IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC	TITexas Instruments 德州仪器美国德州仪器公司	TI
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SN74ABT8952DWR	文件：100 bytes Page：1 Pages	包装：卷带（TR）剪切带（CT）Digi-Reel® 得捷定制卷带封装/外壳：28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）类别：集成电路（IC）专用逻辑器件描述：IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC	TITexas Instruments 德州仪器美国德州仪器公司	TI
SN74ABT8952	文件：365.63 Kbytes Page：24 Pages	SCANTESTDEVICESWITHOCTALREGISTEREDBUSTRANSCEIVERS	TITexas Instruments 德州仪器美国德州仪器公司	TI
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产品属性

产品编号：
SN74ABT8952DW
制造商：
Texas Instruments
类别：
集成电路（IC） > 专用逻辑器件
系列：
74ABT
包装：
管件
逻辑类型：
扫描测试设备，带寄存总线收发器
供电电压：
4.5V ~ 5.5V
位数：
8
工作温度：
-40°C ~ 85°C
安装类型：
表面贴装型
封装/外壳：
28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）
供应商器件封装：
28-SOIC
描述：
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

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