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SN74ABTH18652APM

Marking:ABTH18652A;Package:LQFP;SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS

MembersoftheTexasInstruments SCOPE™FamilyofTestabilityProducts MembersoftheTexasInstruments. Widebus™Family CompatibleWiththeIEEEStandard 1149.1-1990(JTAG)TestAccessPortand Boundary-ScanArchitecture IncludeD-TypeFlip-FlopsandControl CircuitrytoProvideMult

TI2Texas Instruments

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SN74ABTH18652APM

SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS

TITexas Instruments

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SN74ABTH18652APM

Package:64-LQFP;包装:卷带(TR)剪切带(CT)Digi-Reel® 得捷定制卷带 类别:集成电路(IC) 专用逻辑器件 描述:IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

TI2Texas Instruments

德州仪器美国德州仪器公司

SN74ABTH18652A

SCANTESTDEVICESWITH18-BITBUSTRANSCEIVERSANDREGISTERS

TI1Texas Instruments

德州仪器美国德州仪器公司

SN74ABTH18652A

SCANTESTDEVICESWITH18-BITBUSTRANSCEIVERSANDREGISTERS

TITexas Instruments

德州仪器美国德州仪器公司

产品属性

  • 产品编号:

    SN74ABTH18652APM

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 类别:

    集成电路(IC) > 专用逻辑器件

  • 系列:

    74ABTH

  • 包装:

    卷带(TR)剪切带(CT)Digi-Reel® 得捷定制卷带

  • 逻辑类型:

    扫描测试设备,带收发器和寄存器

  • 供电电压:

    4.5V ~ 5.5V

  • 位数:

    18

  • 工作温度:

    -40°C ~ 85°C

  • 安装类型:

    表面贴装型

  • 封装/外壳:

    64-LQFP

  • 供应商器件封装:

    64-LQFP(10x10)

  • 描述:

    IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

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