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SN74ABT8646DW

丝印:ABT8646;Package:SOIC;SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS

Members of the Texas Instruments SCOPE Family of Testability Products Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Functionally Equivalent to ’F646 and ’ABT646 in the Normal-Function Mode SCOPE Instruction Set − IEEE Standard 1149.1

文件:625.48 Kbytes 页数:34 Pages

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SN74ABT8646DW

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND RESISTERS

文件:537.39 Kbytes 页数:32 Pages

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SN74ABT8646DW.B

丝印:ABT8646;Package:SOIC;SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS

Members of the Texas Instruments SCOPE Family of Testability Products Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Functionally Equivalent to ’F646 and ’ABT646 in the Normal-Function Mode SCOPE Instruction Set − IEEE Standard 1149.1

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SN74ABT8646DWE4

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND RESISTERS

文件:537.39 Kbytes 页数:32 Pages

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SN74ABT8646DWR

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND RESISTERS

文件:537.39 Kbytes 页数:32 Pages

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SN74ABT8646DWRE4

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND RESISTERS

文件:537.39 Kbytes 页数:32 Pages

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SN74ABT8646DW

Package:28-SOIC(0.295",7.50mm 宽);包装:卷带(TR)剪切带(CT)Digi-Reel® 得捷定制卷带 类别:集成电路(IC) 专用逻辑器件 描述:IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

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SN74ABT8646DWRE4

Package:28-SOIC(0.295",7.50mm 宽);包装:管件 类别:集成电路(IC) 专用逻辑器件 描述:IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

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SN74ABT8646DWRG4

Package:28-SOIC(0.295",7.50mm 宽);包装:管件 类别:集成电路(IC) 专用逻辑器件 描述:IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

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产品属性

  • 产品编号:

    SN74ABT8646DW

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 类别:

    集成电路(IC) > 专用逻辑器件

  • 系列:

    74ABT

  • 包装:

    卷带(TR)剪切带(CT)Digi-Reel® 得捷定制卷带

  • 逻辑类型:

    扫描测试设备,带总线收发器和寄存器

  • 供电电压:

    4.5V ~ 5.5V

  • 位数:

    8

  • 工作温度:

    -40°C ~ 85°C

  • 安装类型:

    表面贴装型

  • 封装/外壳:

    28-SOIC(0.295",7.50mm 宽)

  • 供应商器件封装:

    28-SOIC

  • 描述:

    IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

供应商型号品牌批号封装库存备注价格
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