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SN74ABT8652DL	文件：589.09 Kbytes Page：32 Pages	丝印：ABT8652；Package：SSOP；SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Functionally Equivalent to ’F652 and ABT652 in the Normal-Function Mode SCOPE E Instruction Set – IEEE Standard 1149. 文件：589.09 Kbytes 页数：32 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT8652DL	文件：366.98 Kbytes Page：25 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS 文件：366.98 Kbytes 页数：25 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT8652DL	文件：682.32 Kbytes Page：33 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS 文件：682.32 Kbytes 页数：33 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT8652DL	文件：520.799 Kbytes Page：31 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS 文件：520.799 Kbytes 页数：31 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT8652DL.B	文件：589.09 Kbytes Page：32 Pages	丝印：ABT8652；Package：SSOP；SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Functionally Equivalent to ’F652 and ABT652 in the Normal-Function Mode SCOPE E Instruction Set – IEEE Standard 1149. 文件：589.09 Kbytes 页数：32 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT8652DLG4	文件：682.32 Kbytes Page：33 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS 文件：682.32 Kbytes 页数：33 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT8652DLG4	文件：520.799 Kbytes Page：31 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS 文件：520.799 Kbytes 页数：31 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT8652DLR	文件：682.32 Kbytes Page：33 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS 文件：682.32 Kbytes 页数：33 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT8652DLRG4	文件：682.32 Kbytes Page：33 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS 文件：682.32 Kbytes 页数：33 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT8652DL	文件：100 bytes Page：1 Pages	Package：28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽）；包装：卷带（TR）剪切带（CT）Digi-Reel® 得捷定制卷带类别：集成电路（IC）专用逻辑器件描述：IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP	TI 德州仪器	TI

产品属性

产品编号：
SN74ABT8652DL
制造商：
Texas Instruments
类别：
集成电路（IC） > 专用逻辑器件
系列：
74ABT
包装：
卷带（TR）剪切带（CT）Digi-Reel® 得捷定制卷带
逻辑类型：
扫描测试设备，带总线收发器和寄存器
供电电压：
4.5V ~ 5.5V
位数：
8
工作温度：
-40°C ~ 85°C
安装类型：
表面贴装型
封装/外壳：
28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽）
供应商器件封装：
28-BSSOP
描述：
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

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更多SN74ABT8652DL供应商更新时间2026-1-29 15:30:00

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