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SN74BCT8245ADWR	文件：503.26 Kbytes Page：29 Pages	丝印：BCT8245A；Package：SOIC；SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS Members of the Texas Instruments SCOPE ™ Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F245 and BCT245 in the Normal- Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operatio 文件：503.26 Kbytes 页数：29 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74BCT8245ADWR	文件：1.01182 Mbytes Page：29 Pages	丝印：BCT8245A；Package：SOIC；WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS 文件：1.01182 Mbytes 页数：29 Pages	TI 德州仪器	TI
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SN74BCT8245ADWR	文件：658.92 Kbytes Page：29 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS 文件：658.92 Kbytes 页数：29 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74BCT8245ADWR.A	文件：503.26 Kbytes Page：29 Pages	丝印：BCT8245A；Package：SOIC；SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS Members of the Texas Instruments SCOPE ™ Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F245 and BCT245 in the Normal- Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operatio 文件：503.26 Kbytes 页数：29 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74BCT8245ADWRE4	文件：309.38 Kbytes Page：22 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS 文件：309.38 Kbytes 页数：22 Pages	TI 德州仪器	TI
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SN74BCT8245ADWR	文件：100 bytes Page：1 Pages	Package：24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）；包装：卷带（TR）剪切带（CT）Digi-Reel® 得捷定制卷带类别：集成电路（IC）专用逻辑器件描述：IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC	TI 德州仪器	TI

产品属性

产品编号：
SN74BCT8245ADWR
制造商：
Texas Instruments
类别：
集成电路（IC） > 专用逻辑器件
系列：
74BCT
包装：
卷带（TR）剪切带（CT）Digi-Reel® 得捷定制卷带
逻辑类型：
扫描测试设备，带总线收发器
供电电压：
4.5V ~ 5.5V
位数：
8
工作温度：
0°C ~ 70°C
安装类型：
表面贴装型
封装/外壳：
24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）
供应商器件封装：
24-SOIC
描述：
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

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