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SN74BCT8245ADW	文件：503.26 Kbytes Page：29 Pages	丝印：BCT8245A；Package：SOIC；SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS MembersoftheTexasInstruments SCOPE™FamilyofTestabilityProducts OctalTest-IntegratedCircuits FunctionallyEquivalentto’F245and BCT245intheNormal-FunctionMode CompatibleWiththeIEEEStandard 1149.1-1990(JTAG)TestAccessPortand Boundary-ScanArchitecture TestOperatio	TI2Texas Instruments 德州仪器美国德州仪器公司	TI2
SN74BCT8245ADW	文件：309.38 Kbytes Page：22 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS	TITexas Instruments 德州仪器美国德州仪器公司	TI
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SN74BCT8245ADW	文件：1.01182 Mbytes Page：29 Pages	丝印：BCT8245A；Package：SOIC；WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS	TITexas Instruments 德州仪器美国德州仪器公司	TI
SN74BCT8245ADW	文件：100 bytes Page：1 Pages	Package：24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）；包装：卷带（TR）剪切带（CT）Digi-Reel® 得捷定制卷带类别：集成电路（IC）专用逻辑器件描述：IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC	TI2Texas Instruments 德州仪器美国德州仪器公司	TI2
SN74BCT8245ADWR	文件：503.26 Kbytes Page：29 Pages	丝印：BCT8245A；Package：SOIC；SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS MembersoftheTexasInstruments SCOPE™FamilyofTestabilityProducts OctalTest-IntegratedCircuits FunctionallyEquivalentto’F245and BCT245intheNormal-FunctionMode CompatibleWiththeIEEEStandard 1149.1-1990(JTAG)TestAccessPortand Boundary-ScanArchitecture TestOperatio	TI2Texas Instruments 德州仪器美国德州仪器公司	TI2
SN74BCT8245ADWR.A	文件：503.26 Kbytes Page：29 Pages	丝印：BCT8245A；Package：SOIC；SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS MembersoftheTexasInstruments SCOPE™FamilyofTestabilityProducts OctalTest-IntegratedCircuits FunctionallyEquivalentto’F245and BCT245intheNormal-FunctionMode CompatibleWiththeIEEEStandard 1149.1-1990(JTAG)TestAccessPortand Boundary-ScanArchitecture TestOperatio	TI2Texas Instruments 德州仪器美国德州仪器公司	TI2
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产品属性

产品编号：
SN74BCT8245ADW
制造商：
Texas Instruments
类别：
集成电路（IC） > 专用逻辑器件
系列：
74BCT
包装：
卷带（TR）剪切带（CT）Digi-Reel® 得捷定制卷带
逻辑类型：
扫描测试设备，带总线收发器
供电电压：
4.5V ~ 5.5V
位数：
8
工作温度：
0°C ~ 70°C
安装类型：
表面贴装型
封装/外壳：
24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）
供应商器件封装：
24-SOIC
描述：
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

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