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SN74ABT18504PM	文件：716.62 Kbytes Page：35 Pages	丝印：ABT18504；Package：LQFP；SCAN TEST DEVICES WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Members of the Texas Instruments Widebus E Family Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture UBT E (Universal Bus Transceiver) Combines D-Type Latches and D-Typ 文件：716.62 Kbytes 页数：35 Pages	TI 德州仪器	TI
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产品属性

产品编号：
SN74ABT18504PM
制造商：
Texas Instruments
类别：
集成电路（IC） > 专用逻辑器件
系列：
74ABT
包装：
卷带（TR）剪切带（CT）Digi-Reel® 得捷定制卷带
逻辑类型：
扫描测试设备，带通用总线收发器
供电电压：
4.5V ~ 5.5V
位数：
20
工作温度：
-40°C ~ 85°C
安装类型：
表面贴装型
封装/外壳：
64-LQFP
供应商器件封装：
64-LQFP（10x10）
描述：
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

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