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SN54ABTH182502A	文件：926.08 Kbytes Page：47 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Members of the Texas Instruments Widebus E Family Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture UBT E (Universal Bus Transceiver) Combines D-Type Latches and D-Typ 文件：926.08 Kbytes 页数：47 Pages	TI 德州仪器	TI
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更多SN54ABTH182502A供应商更新时间2025-9-26 16:21:00