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5962-9172701QLA	文件：512.25 Kbytes Page：27 Pages	型号：5962-9172701QLA；Package：CDIP；SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS Members of the Texas Instruments SCOPE  Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F374 and ’BCT374 in the Normal-Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operatio 文件：512.25 Kbytes 页数：27 Pages	德州仪器	ETC
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5962-9172701QLA	文件：512.25 Kbytes Page：27 Pages	型号：5962-9172701QLA；Package：CDIP；SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS Members of the Texas Instruments SCOPE  Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F374 and ’BCT374 in the Normal-Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operatio 文件：512.25 Kbytes 页数：27 Pages	德州仪器	ETC
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详细参数

型号：
5962-9172701QLA
制造商：
Texas Instruments
功能描述：
Flip Flop D-Type Bus Interface Pos-Edge 3-ST 1-Element 24-Pin CDIP Tube
制造商：
Rochester Electronics LLC
功能描述：
- Bulk

供应商	型号	品牌	批号	封装	库存	备注	价格
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