具有八路 D 型锁存器的 IEEE 标准 1149.1 (JTAG) 边界扫描测试设备

The 'BCT8373A scan test devices with octal D-type latches are members of the Texas Instruments SCOPETM testability integrated-circuit family. This family of devices supports IEEE Standard 1149.1-1990 boundary scan to facilitate testing of complex circuit board assemblies. Scan access to the test cir • Members of the Texas Instruments SCOPETM Family of Testability Products \n• Functionally Equivalent to 'F373 and 'BCT373 in the Normal-Function Mode \n• Test Operation Synchronous to Test Access Port (TAP) \n• SCOPETM Instruction Set \n• Parallel Signature Analysis at Inputs \n• Sample Inputs/Togg;

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德州仪器

Package：24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）；包装：卷带（TR） 类别：集成电路（IC） 专用逻辑器件 描述：IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

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Package：24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）；包装：卷带（TR） 类别：集成电路（IC） 专用逻辑器件 描述：IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

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Package：24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）；包装：管件 类别：集成电路（IC） 专用逻辑器件 描述：IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

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