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SN74BCT8244ANT集成电路（IC）的专用逻辑器件规格书PDF中文资料
| 厂商型号 |
SN74BCT8244ANT |
| 参数属性 | SN74BCT8244ANT 封装/外壳为24-DIP（0.300"，7.62mm）；包装为卷带（TR）；类别为集成电路（IC）的专用逻辑器件；产品描述：IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP |
| 功能描述 | SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS |
| 封装外壳 | 24-DIP（0.300"，7.62mm） |
| 文件大小 |
472.15 Kbytes |
| 页面数量 |
26 页 |
| 生产厂商 | Texas Instruments |
| 企业简称 |
TI【德州仪器】 |
| 中文名称 | 美国德州仪器公司官网 |
| 原厂标识 |  |
| 数据手册 | |
| 更新时间 | 2025-6-26 11:36:00 |
| 人工找货 | SN74BCT8244ANT价格和库存，欢迎联系客服免费人工找货 |
产品属性
- 产品编号：
SN74BCT8244ANT
- 制造商：
Texas Instruments
- 类别：
集成电路（IC） > 专用逻辑器件
- 系列：
74BCT
- 包装：
卷带（TR）
- 逻辑类型：
扫描测试设备，带缓冲器
- 供电电压：
4.5V ~ 5.5V
- 位数：
8
- 工作温度：
0°C ~ 70°C
- 安装类型：
通孔
- 封装/外壳：
24-DIP（0.300"，7.62mm）
- 供应商器件封装：
24-PDIP
- 描述：
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
| 供应商 | 型号 | 品牌 | 批号 | 封装 | 库存 | 备注 | 价格 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
24+ |
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