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SN74BCT8244A集成电路（IC）的专用逻辑器件规格书PDF中文资料

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厂商型号	SN74BCT8244A
参数属性	SN74BCT8244A 封装/外壳为24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）；包装为卷带（TR）；类别为集成电路（IC）的专用逻辑器件；产品描述：IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
功能描述	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
封装外壳	24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）
文件大小	472.15 Kbytes
页面数量	26 页
生产厂商	TI
中文名称	德州仪器
网址	网址
数据手册	原厂下载下载地址一下载地址二到原厂下载
更新时间	2025-11-1 23:00:00
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SN74BCT8244A规格书详情

SN74BCT8244A属于集成电路（IC）的专用逻辑器件。由德州仪器制造生产的SN74BCT8244A专用逻辑器件专用逻辑 IC 设计提供应用特定的逻辑输出类型，例如 BCD 速率倍增、可寻址扫描端口、总线终端阵列、CML 驱动器、比较器、ABT 扫描测试、二进制全加法器、互补对加逆变器、可配置缓冲器、触点颤动消除器、晶体振荡器、延迟元件、差分接收器、LVTTL 到 GTLP 收发器、存储器解码器、电源良好检测器和分频器。

产品属性

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产品编号：
SN74BCT8244ADWR
制造商：
Texas Instruments
类别：
集成电路（IC） > 专用逻辑器件
系列：
74BCT
包装：
卷带（TR）
逻辑类型：
扫描测试设备，带缓冲器
供电电压：
4.5V ~ 5.5V
位数：
8
工作温度：
0°C ~ 70°C
安装类型：
表面贴装型
封装/外壳：
24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）
供应商器件封装：
24-SOIC
描述：
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

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