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SN74BCT8244ADW集成电路(IC)的专用逻辑器件规格书PDF中文资料

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厂商型号

SN74BCT8244ADW

参数属性

SN74BCT8244ADW 封装/外壳为24-SOIC(0.295",7.50mm 宽);包装为卷带(TR)剪切带(CT)Digi-Reel® 得捷定制卷带;类别为集成电路(IC)的专用逻辑器件;产品描述:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

功能描述

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

封装外壳

24-SOIC(0.295",7.50mm 宽)

文件大小

642.79 Kbytes

页面数量

28

生产厂商

TI

中文名称

德州仪器

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数据手册

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更新时间

2025-11-1 23:00:00

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SN74BCT8244ADW规格书详情

SN74BCT8244ADW属于集成电路(IC)的专用逻辑器件。由德州仪器制造生产的SN74BCT8244ADW专用逻辑器件专用逻辑 IC 设计提供应用特定的逻辑输出类型,例如 BCD 速率倍增、可寻址扫描端口、总线终端阵列、CML 驱动器、比较器、ABT 扫描测试、二进制全加法器、互补对加逆变器、可配置缓冲器、触点颤动消除器、晶体振荡器、延迟元件、差分接收器、LVTTL 到 GTLP 收发器、存储器解码器、电源良好检测器和分频器。

产品属性

更多
  • 产品编号:

    SN74BCT8244ADW

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 类别:

    集成电路(IC) > 专用逻辑器件

  • 系列:

    74BCT

  • 包装:

    卷带(TR)剪切带(CT)Digi-Reel® 得捷定制卷带

  • 逻辑类型:

    扫描测试设备,带缓冲器

  • 供电电压:

    4.5V ~ 5.5V

  • 位数:

    8

  • 工作温度:

    0°C ~ 70°C

  • 安装类型:

    表面贴装型

  • 封装/外壳:

    24-SOIC(0.295",7.50mm 宽)

  • 供应商器件封装:

    24-SOIC

  • 描述:

    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

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