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SN74ABTH182502A	文件：926.08 Kbytes Page：47 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Members of the Texas Instruments Widebus E Family Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture UBT E (Universal Bus Transceiver) Combines D-Type Latches and D-Typ 文件：926.08 Kbytes 页数：47 Pages	TI 德州仪器	TI
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SN74ABTH182502APM.B	文件：926.08 Kbytes Page：47 Pages	丝印：ABTH182502A；Package：LQFP；SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Members of the Texas Instruments Widebus E Family Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture UBT E (Universal Bus Transceiver) Combines D-Type Latches and D-Typ 文件：926.08 Kbytes 页数：47 Pages	TI 德州仪器	TI
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技术参数

VCC(Min)(V)：
4.5
VCC(Max)(V)：
5.5
Bits(#)：
18
Voltage(Nom)(V)：
5
F @ nom voltage(Max)(MHz)：
150
ICC @ nom voltage(Max)(mA)：
27
tpd @ nom Voltage(Max)(ns)：
6.2
IOL(Max)(mA)：
64
IOH(Max)(mA)：
-32
Operating temperature range(C)：
-40 to 85
Package Group：
LQFP

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