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SN74ABTH182502APM集成电路(IC)的通用总线功能规格书PDF中文资料

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厂商型号

SN74ABTH182502APM

参数属性

SN74ABTH182502APM 封装/外壳为64-LQFP;包装为管件;类别为集成电路(IC)的通用总线功能;产品描述:IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP

功能描述

SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP

丝印标识

ABTH182502A

封装外壳

LQFP / 64-LQFP

文件大小

924.4 Kbytes

页面数量

47

生产厂商

TI

中文名称

德州仪器

网址

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数据手册

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更新时间

2025-12-18 10:33:00

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SN74ABTH182502APM规格书详情

SN74ABTH182502APM属于集成电路(IC)的通用总线功能。由德州仪器制造生产的SN74ABTH182502APM通用总线功能通用总线功能系列产品是元件级产品,用于处理或操作一系列(通常为 8 个或更多)并行逻辑信号(称为总线)。所执行的功能包括临时存储要发送或接收的数据,执行缓冲以允许输出电流容量有限的器件(例如微处理器)通过远距离互连高速传输数据,以及调换或移动总线内的位顺序等。

Members of the Texas Instruments

SCOPE E Family of Testability Products

Members of the Texas Instruments

Widebus E Family

Compatible With the IEEE Standard

1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port

and Boundary-Scan Architecture

UBT E (Universal Bus Transceiver)

Combines D-Type Latches and D-Type

Flip-Flops for Operation in Transparent,

Latched, or Clocked Mode

Bus Hold on Data Inputs Eliminates the

Need for External Pullup Resistors

B-Port Outputs of ’ABTH182502A Devices

Have Equivalent 25-W Series Resistors, So

No External Resistors Are Required

State-of-the-Art EPIC-IIB E BiCMOS Design

One Boundary-Scan Cell Per I/O

Architecture Improves Scan Efficiency

SCOPE Instruction Set

– IEEE Standard 1149.1-1990 Required

Instructions and Optional CLAMP and

HIGHZ

– Parallel-Signature Analysis at Inputs

– Pseudo-Random Pattern Generation

From Outputs

– Sample Inputs/Toggle Outputs

– Binary Count From Outputs

– Device Identification

– Even-Parity Opcodes

Packaged in 64-Pin Plastic Thin Quad Flat

(PM) Packages Using 0.5-mm

Center-to-Center Spacings and 68-Pin

Ceramic Quad Flat (HV) Packages Using

25-mil Center-to-Center Spacings

产品属性

更多
  • 产品编号:

    SN74ABTH182502APM

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 类别:

    集成电路(IC) > 通用总线功能

  • 系列:

    74ABTH

  • 包装:

    管件

  • 逻辑类型:

    扫描测试通用总线收发器

  • 电路数:

    18 位

  • 电流 - 输出高、低:

    32mA,64mA

  • 电压 - 供电:

    4.5V ~ 5.5V

  • 工作温度:

    -40°C ~ 85°C

  • 安装类型:

    表面贴装型

  • 封装/外壳:

    64-LQFP

  • 供应商器件封装:

    64-LQFP(10x10)

  • 描述:

    IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP

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