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SN74ABT18646PM	文件：437.67 Kbytes Page：16 Pages	丝印：ABT18646；Package：LQFP；SCAN TEST DEVICE WITH 18-BIT TRANSCEIVER AND REGISTER Member of the Texas Instruments Widebus Family Compatible With IEEE Std 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Includes D-Type Flip-Flops and Control Circuitry to Provide Multiplexed Transmission of Stored and Real-Time Data Two Boundary-Scan Cells Per I/O for 文件：437.67 Kbytes 页数：16 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18646PM	文件：208.68 Kbytes Page：13 Pages	WITH 18-BIT TRANSCEIVER AND REGISTER 文件：208.68 Kbytes 页数：13 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18646PM.B	文件：437.67 Kbytes Page：16 Pages	丝印：ABT18646；Package：LQFP；SCAN TEST DEVICE WITH 18-BIT TRANSCEIVER AND REGISTER Member of the Texas Instruments Widebus Family Compatible With IEEE Std 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Includes D-Type Flip-Flops and Control Circuitry to Provide Multiplexed Transmission of Stored and Real-Time Data Two Boundary-Scan Cells Per I/O for 文件：437.67 Kbytes 页数：16 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18646PMG4.B	文件：437.67 Kbytes Page：16 Pages	丝印：ABT18646；Package：LQFP；SCAN TEST DEVICE WITH 18-BIT TRANSCEIVER AND REGISTER Member of the Texas Instruments Widebus Family Compatible With IEEE Std 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Includes D-Type Flip-Flops and Control Circuitry to Provide Multiplexed Transmission of Stored and Real-Time Data Two Boundary-Scan Cells Per I/O for 文件：437.67 Kbytes 页数：16 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18646PMG4	文件：208.68 Kbytes Page：13 Pages	WITH 18-BIT TRANSCEIVER AND REGISTER 文件：208.68 Kbytes 页数：13 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18646PM	文件：100 bytes Page：1 Pages	Package：64-LQFP；包装：卷带（TR）剪切带（CT）Digi-Reel® 得捷定制卷带类别：集成电路（IC）专用逻辑器件描述：IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP	TI 德州仪器	TI

产品属性

产品编号：
SN74ABT18646PM
制造商：
Texas Instruments
类别：
集成电路（IC） > 专用逻辑器件
系列：
74ABT
包装：
卷带（TR）剪切带（CT）Digi-Reel® 得捷定制卷带
逻辑类型：
扫描测试设备，带收发器和寄存器
供电电压：
4.5V ~ 5.5V
位数：
18
工作温度：
-40°C ~ 85°C
安装类型：
表面贴装型
封装/外壳：
64-LQFP
供应商器件封装：
64-LQFP（10x10）
描述：
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

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