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SN74ABT18504	文件：716.62 Kbytes Page：35 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Members of the Texas Instruments Widebus E Family Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture UBT E (Universal Bus Transceiver) Combines D-Type Latches and D-Typ 文件：716.62 Kbytes 页数：35 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18504	文件：450.02 Kbytes Page：30 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 文件：450.02 Kbytes 页数：30 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18504	文件：665.59 Kbytes Page：34 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 文件：665.59 Kbytes 页数：34 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18504	文件：300 bytes Page：1 Pages	具有 20 位通用总线收发器的扫描测试设备 The SN54ABT18504 and SN74ABT18504 scan test devices with 20-bit universal bus transceivers are members of the Texas Instruments SCOPETM testability IC family. This family of devices supports IEEE Standard 1149.1-1990 boundary scan to facilitate testing of complex circuit board assemblies. Scan acces • Members of the Texas Instruments SCOPE TM Family ofTestability Products• Members of the Texas Instruments Widebus TM Family• Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) TestAccess Port and Boundary-Scan Architecture• UBT TM (Universal Bus Transceiver) Combines D-TypeLatches and D-Type Fli;	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18504PM	文件：716.62 Kbytes Page：35 Pages	丝印：ABT18504；Package：LQFP；SCAN TEST DEVICES WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Members of the Texas Instruments Widebus E Family Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture UBT E (Universal Bus Transceiver) Combines D-Type Latches and D-Typ 文件：716.62 Kbytes 页数：35 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18504PM.B	文件：716.62 Kbytes Page：35 Pages	丝印：ABT18504；Package：LQFP；SCAN TEST DEVICES WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Members of the Texas Instruments Widebus E Family Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture UBT E (Universal Bus Transceiver) Combines D-Type Latches and D-Typ 文件：716.62 Kbytes 页数：35 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18504PMG4.B	文件：716.62 Kbytes Page：35 Pages	丝印：ABT18504；Package：LQFP；SCAN TEST DEVICES WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Members of the Texas Instruments Widebus E Family Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture UBT E (Universal Bus Transceiver) Combines D-Type Latches and D-Typ 文件：716.62 Kbytes 页数：35 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18504PM	文件：450.02 Kbytes Page：30 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 文件：450.02 Kbytes 页数：30 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18504PM	文件：665.59 Kbytes Page：34 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 文件：665.59 Kbytes 页数：34 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18504PMG4	文件：665.59 Kbytes Page：34 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 文件：665.59 Kbytes 页数：34 Pages	TI 德州仪器	TI

技术参数

VCC(Min)(V)：
4.5
VCC(Max)(V)：
5.5
Bits(#)：
20
Voltage(Nom)(V)：
5
F @ nom voltage(Max)(MHz)：
150
ICC @ nom voltage(Max)(mA)：
40
tpd @ nom Voltage(Max)(ns)：
6.5
IOL(Max)(mA)：
64
IOH(Max)(mA)：
-32
Operating temperature range(C)：
-40 to 85
Package Group：
LQFP

供应商	型号	品牌	批号	封装	库存	备注	价格
深圳市恒科翔业电子有限公司	SN74ABT18504	TI德州仪器	22+		24000	原装正品现货,实单可谈,量大价优	询价
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更多SN74ABT18504供应商更新时间2026-1-29 15:01:00

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