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制造商: Littelfuse
产品种类: 带引线的保险丝（通孔型）
RoHS: 符合RoHS 详细信息
电流额定值: 5 A
电压额定值 AC: 500 V
保险丝类型: Time Delay / Slow Blow
主体类型: Leaded Fuses
电压额定值 DC: 400 VDC
端接类型: Axial
保险丝大小/组: 5 mm x 20 mm
系列: 477
封装: Bulk
商标: Littelfuse
直径: 5.8 mm
指示器型式: Without Indicator
中断额定值: 100 A
长度: 22.5 mm
产品类型: Axial Fuse
工厂包装数量: 1000
商标名: Slo-Blo
类型: Specialty Fuses
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创芯弘科技连续两年荣获“电子元器件行业十大金牌优质供应商
全面性的服务协助工程师以更低成本开发、部署和维护测试系统
新闻要点：
新PXIe VXT 和 SMU 为PA和FEM测试应用提供卓越的测量速度和精度
新PXIe Gen 3 机箱、IO元器件和外部电脑选件，为数据流传输、多通道、多机箱系统提供市面上最宽的系统带宽
为台式、PXI 和AXIe仪器增加一站式校准服务，提供多厂商支持
2016 年7月20日，北京——是德科技公司（NYSE：KEYS）日前宣布，其高性能PXI和AXIe仪器和参考解决方案阵容也已扩充。这些仪器和解决方案广泛用于各种应用，包括5G、PA/FEM和数字互连测试，以提高测试速度、提升精度并缩小整体尺寸。是德科技致力通过PXI和AXIe仪器提供业界首屈一指的射频、微波和数字测量专业技术，这些新产品是其中一部分。参考解决方案利用现有的最佳仪器，包括台式仪器、模块化仪器或二者的组合，为5G、电子战威胁仿真和数字互连测试等关键应用提供经过验证的硬件和软件测试配置。
M9019A PXIe Gen 3 18插槽机箱、控制器、I/O 元器件和外部电脑选件提供了目前市场上最高的系统带宽。全新系列PXIe系统元器件提供比典型的Gen 2机箱至少大一倍的系统带宽，而外置电脑选件则摆脱了封闭式PXIe系统对电脑选择的限制。
利用是德科技的开放式Gen 3平台，客户可以选用最适合的外置电脑或控制器来满足自身需求。例如，需要对电脑进行优化，用以捕获并回放大数据流的 5G 或电子战应用；或是需要大型、多通道、多机箱PXIe测试系统的MIMO应用。
4 插槽M9421A PXIe矢量收发信机（VXT）和M9111A PXIe高速电源/测量单元（SMU）可提高测试吞吐量，缩小测试系统的整体尺寸，适用于新一代 PA/FEM 的生产测试和设计验证。新PXIe VXT 和 SMU 将作为是德科技射频 PA/FEM 表征和测试参考解决方案的一部分。
VXT 覆盖 60 MHz 到 6 GHz 的频率范围，调制和分析带宽高达 160 MHz，支持 FPGA 加速测量，并配有功能强大的软件以支持模拟解调、噪声系数和众多移动通讯和无线连通性制式。而新的 SMU 只需不到1毫秒，便可变更电压、让波形趋稳，并且準确量测微安培级（mA）的电流。这比上一代独立式Keysight SMU 的速度提高了 20 倍，其体积也大大缩小。
全新数字互连测试参考解决方案是世界上最快的电缆测试仪，配备PXI VNA，可执行高达 26.5 GHz的32端口全交叉S参数校准。PLTS软件通过方便的生产测试界面提供完整的域分析。
其他新产品包括：
M9195B PXIe数字激励/响应（DSR）模块，作为 M9195A的改进型，可提供多模块同步和码型编辑软件
M9203A PXIe 12 位高速数字化仪/宽带数字接收机，专为测试最新无线通信、雷达和卫星设备设计
M8030A 多通道比特误码率测试仪（BERT）可与用于多通道测试的M9514A 14插槽AXIe机箱和M8070A 系统软件配合使用，对多达 10 个 BERT 通道实施同时表征，并减少高通道数、高数据速率应用中的串扰
M8040A 高度集成的比特误码率测试仪（BERT）用于物理层表征和一致性测试，数据速率高达 64 Gbaud。M8040A 涵盖各种类型的 400 GbE标准，可简化 PAM-4 和 NRZ 接收机的表征
第二代M9537A AXIe嵌入式控制器为数据密集型分析和多模块支持提供高速运算能力，并能同时显示多种波形和分析工具，增强故障诊断能力
M9703B AXIe 12位高速数字化仪/宽带数字接收机，是 M9703A 的改进型号，特别适用于多通道应用，满足其相位相干性、宽带频率分析、高动态范围、数据流传输和记录能力要求
是德科技今日还宣布，其业界领先的一站式校准服务进一步扩大，将非是德科技出品的设备也覆盖在内，更充分地实现公司支持完整测试系统的承诺。
是德科技的一站式校准服务，可确保来自其它厂商的测试资产以及电气、物理、尺寸和光学设备保持持续稳定的精度和可用性。这有助于工程师以更低的成本开发、部署和维护测试系统。
当今的测试系统往往整合了来自多家厂商的不同形式的仪器。这包括在越来越多的PXI和AXIe仪器与传统台式仪器一起使用。这些仪器通常部署在复杂的解决方案中，需要现场安装、维护和修理。越来越多的客户希望其来自多家厂商的系统能够得到优质的服务，是德科技的一站式校准服务满足了他们的要求，现在覆盖 100,000 多种产品，包括来自是德科技之外其他厂商的台式仪器、PXI和AXIe仪器。
是德科技服务解决方案事业部总裁John Page表示：“我们认识到测试系统是企业的关键资源，越来越多的测试系统整合了PXI和AXIe仪器。我们的全球专家网络能够帮助客户，为这些系统和系统结构提供正常运行时间支持、校准和维护。”
是德科技以业界领先的校准技术、核心模块交换策略以及标准三年保修，提供快速的维修周转时间，可最大限度延长系统的正常运行时间，降低总体拥有成本。Micro LED引起市场关注，Sony和Apple是两大关键推手。问题是，为什么一个往大尺寸走，一个往小尺寸走，却同时选择了Micro LED？为何Sony产品已经亮相了，苹果并购Luxvue后迟迟没有下一步？
2016年苹果几乎成了OLED代言人，而Sony也没闲着，在6月的Infocomm上端出第二代Micro LED作品--Crystal系列新作CLEDISTM，距离2012年的Crystal LED Display，足足沉寂了四年之久，而在一片OLED是否会取代LCD的喧哗声中，Micro LED悄悄的回到镁光灯下，再次引起媒体的关注。
Micro LED这个词出现的很早，早在2000年Cree就申请了名为「Micro-ledarrays withenhanced light extraction」的专利，随后相关论文发表也很多，但Micro LED还只是纯粹的学术研究。
学界对MicroLED的投入一直持续，举凡Illinois University、Strathclyde University、TexasTech University、香港科大和台湾交大、清大，皆有斐然的研究成果，有些能量也在之后转向了商业。University of Illinois的JohnA.Rogers就是这个领域的大师，先在2006年spin-out技术给Semprius，2013年后又成立X-celeprint，并独家授权Micro-Transfer-Printing(μTP)技术；Strathclyde大学也在2010年spin-off出mLED公司，专注在MicroLED的近眼显示应用。
MicroLED累积这么久的学术能量，LED厂、面板厂也秘密研发多年，但商业化的关键角色，还是非两位消费电子霸主莫属--「Sony」和「Apple」。
Sony在2012年CES就推出「Crystal LED Display」，开了MicroLED在消费电子应用的先河，这台看来跟一般电视没两样的LED Display，在当时是集合尖端技术的昂贵作品，抓住市场的关注后Sony迟迟没有续作，等了足足四年多才有了下个动作，随后带来的是拼接显示屏，一样沿用了Crystal这个用词，只是产品名称更花俏了，叫CLEDIS(Crystal LED Integrated Structure)，这次不再是远观的0477005.MXEP武力展演，Sony宣称要在2017年量产CLEDIS，走入市场。
不同于Sony专攻大屏幕，苹果锁定在小尺寸，2014年收购了LuxVue后，各种传言甚嚣尘上，iPhone、iPad、Applewatch都有人臆测，到底苹果葫芦里卖甚么药，当然没人说的准，然而以MicroLED的特性、Luxvue的专利，以及苹果产品策略来看，第一步问世的会是穿戴式，比起先前传言的2017年，比较可能发生的时间点是2018~2019年，为甚么不是iPhone？iPhone不会是第一步，但绝对是苹果的重点目标。
苹果和Sony的布局是有端倪的，在寻找商业入口时，两个巨人走了看似完全不同的方向，背后面临的挑战却是一样的-「PPI」和「Pixel数量」的课题。PPI连结的是LED尺寸，而Pixel数量直接影响成品良率。毕竟要把LED做小，又要精准的转移、驱动，Size越小、转移越多颗，难度自然相对越高。
