| 零件编号 | 下载 订购 | 功能描述/丝印 | 制造商 上传企业 | LOGO |
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Marking：ABTH182646A；Package：LQFP；SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS MembersoftheTexasInstruments SCOPEEFamilyofTestabilityProducts MembersoftheTexasInstruments WidebusEFamily CompatibleWiththeIEEEStandard 1149.1-1990(JTAG)TestAccessPortand Boundary-ScanArchitecture IncludeD-TypeFlip-FlopsandControl CircuitrytoProvideMultiplex | TI2Texas Instruments 德州仪器美国德州仪器公司 | TI2 |
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