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SPLDS90A_3	文件：592.09 Kbytes Page：12 Pages	Chip Nanostack Pulsed Laser Diode Features: —Qualifications: The product qualification test plan is based on the guidelines of AEC-Q102, failure mechanism based Stress Test Qualification for Discrete Optoelectronic Semiconductors in Automotive applications. —ESD: 2 kV acc. to ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 (HBM) —Reliable strained In 文件：592.09 Kbytes 页数：12 Pages	AMSCO 艾迈斯欧司朗	AMSCO
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