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SN74BCT8374ANT集成电路(IC)的专用逻辑器件规格书PDF中文资料

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厂商型号

SN74BCT8374ANT

参数属性

SN74BCT8374ANT 封装/外壳为24-DIP(0.300",7.62mm);包装为卷带(TR);类别为集成电路(IC)的专用逻辑器件;产品描述:IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

功能描述

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

封装外壳

24-DIP(0.300",7.62mm)

文件大小

474.07 Kbytes

页面数量

26

生产厂商

TI

中文名称

德州仪器

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更新时间

2025-11-4 16:06:00

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SN74BCT8374ANT规格书详情

SN74BCT8374ANT属于集成电路(IC)的专用逻辑器件。由德州仪器制造生产的SN74BCT8374ANT专用逻辑器件专用逻辑 IC 设计提供应用特定的逻辑输出类型,例如 BCD 速率倍增、可寻址扫描端口、总线终端阵列、CML 驱动器、比较器、ABT 扫描测试、二进制全加法器、互补对加逆变器、可配置缓冲器、触点颤动消除器、晶体振荡器、延迟元件、差分接收器、LVTTL 到 GTLP 收发器、存储器解码器、电源良好检测器和分频器。

产品属性

更多
  • 产品编号:

    SN74BCT8374ANT

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 类别:

    集成电路(IC) > 专用逻辑器件

  • 系列:

    74BCT

  • 包装:

    卷带(TR)

  • 逻辑类型:

    扫描测试设备,带 D 型边沿触发式触发器

  • 供电电压:

    4.5V ~ 5.5V

  • 位数:

    8

  • 工作温度:

    0°C ~ 70°C

  • 安装类型:

    通孔

  • 封装/外壳:

    24-DIP(0.300",7.62mm)

  • 供应商器件封装:

    24-PDIP

  • 描述:

    IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

供应商 型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
TI
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