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SN74BCT8240ADW	文件：498.54 Kbytes Page：27 Pages	丝印：BCT8240A；Package：SOIC；SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F240 and ’BCT240 in the Normal-Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operatio 文件：498.54 Kbytes 页数：27 Pages	TI 德州仪器	TI
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SN74BCT8240ADW	文件：100 bytes Page：1 Pages	Package：24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）；包装：卷带（TR）剪切带（CT）Digi-Reel® 得捷定制卷带类别：集成电路（IC）专用逻辑器件描述：IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC	TI 德州仪器	TI
SN74BCT8240ADWRE4	文件：100 bytes Page：1 Pages	Package：24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）；包装：卷带（TR）类别：集成电路（IC）专用逻辑器件描述：IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC	TI 德州仪器	TI
SN74BCT8240ADWRG4	文件：100 bytes Page：1 Pages	Package：24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）；包装：管件类别：集成电路（IC）专用逻辑器件描述：IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC	TI 德州仪器	TI

产品属性

产品编号：
SN74BCT8240ADW
制造商：
Texas Instruments
类别：
集成电路（IC） > 专用逻辑器件
系列：
74BCT
包装：
卷带（TR）剪切带（CT）Digi-Reel® 得捷定制卷带
逻辑类型：
扫描测试设备，带反相缓冲器
供电电压：
4.5V ~ 5.5V
位数：
8
工作温度：
0°C ~ 70°C
安装类型：
表面贴装型
封装/外壳：
24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）
供应商器件封装：
24-SOIC
描述：
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

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