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SN74ABT8543	文件：566.93 Kbytes Page：31 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL REGISTERED BUS TRANSCEIVERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Functionally Equivalent to ’F543 and ABT543 in the Normal-Function Mode SCOPE E Instruction Set – IEEE Standard 1149. 文件：566.93 Kbytes 页数：31 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT8543	文件：357.14 Kbytes Page：25 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL REGISTERED BUS TRANSCEIVERS 文件：357.14 Kbytes 页数：25 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT8543	文件：537.93 Kbytes Page：31 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL REGISTERED BUS TRANSCEIVERS 文件：537.93 Kbytes 页数：31 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT8543	文件：300 bytes Page：1 Pages	具有八路寄存总线收发器的扫描测试设备 The 'ABT8543 scan test devices with octal registered bus transceivers are members of the Texas Instruments SCOPETM testability integrated-circuit family. This family of devices supports IEEE Standard 1149.1-1990 boundary scan to facilitate testing of complex circuit-board assemblies. Scan access to • Members of the Texas Instruments SCOPETM Family ofTestability Products• Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) TestAccess Port and Boundary-Scan Architecture• Functionally Equivalent to 'F543 and 'ABT543 in theNormal-Function Mode• SCOPETM Instruction Set• IEEE Standard 1149.1-1990 R;	TI 德州仪器	TI
SN74ABT8543DW	文件：566.93 Kbytes Page：31 Pages	丝印：ABT8543；Package：SOIC；SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL REGISTERED BUS TRANSCEIVERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Functionally Equivalent to ’F543 and ABT543 in the Normal-Function Mode SCOPE E Instruction Set – IEEE Standard 1149. 文件：566.93 Kbytes 页数：31 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT8543DW.B	文件：566.93 Kbytes Page：31 Pages	丝印：ABT8543；Package：SOIC；SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL REGISTERED BUS TRANSCEIVERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Functionally Equivalent to ’F543 and ABT543 in the Normal-Function Mode SCOPE E Instruction Set – IEEE Standard 1149. 文件：566.93 Kbytes 页数：31 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT8543DL	文件：537.93 Kbytes Page：31 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL REGISTERED BUS TRANSCEIVERS 文件：537.93 Kbytes 页数：31 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT8543DL	文件：357.14 Kbytes Page：25 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL REGISTERED BUS TRANSCEIVERS 文件：357.14 Kbytes 页数：25 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT8543DW	文件：357.14 Kbytes Page：25 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL REGISTERED BUS TRANSCEIVERS 文件：357.14 Kbytes 页数：25 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT8543DW	文件：537.93 Kbytes Page：31 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL REGISTERED BUS TRANSCEIVERS 文件：537.93 Kbytes 页数：31 Pages	TI 德州仪器	TI

技术参数

VCC(Min)(V)：
4.5
VCC(Max)(V)：
5.5
Bits(#)：
8
Voltage(Nom)(V)：
5
F @ nom voltage(Max)(MHz)：
150
ICC @ nom voltage(Max)(mA)：
38
tpd @ nom Voltage(Max)(ns)：
5.8
IOL(Max)(mA)：
64
IOH(Max)(mA)：
-32
Operating temperature range(C)：
-40 to 85
Package Group：
SOIC

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