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SN74ABT18640	文件：512.64 Kbytes Page：30 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT INVERTING BUS TRANSCEIVERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Members of the Texas Instruments WidebusE Family Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture SCOPE E Instruction Set – IEEE Standard 1149.1-1990 Required Instru 文件：512.64 Kbytes 页数：30 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18640	文件：400.7 Kbytes Page：30 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT INVERTING BUS TRANSCEIVERS 文件：400.7 Kbytes 页数：30 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18640	文件：300 bytes Page：1 Pages	具有 18 位反向总线收发器的扫描测试设备 The 'ABT18640 scan test devices with 18-bit inverting bus transceivers are members of the Texas Instruments SCOPETM testability integrated-circuit family. This family of devices supports IEEE Standard 1149.1-1990 boundary scan to facilitate testing of complex circuit-board assemblies. Scan access to • Members of the Texas Instruments SCOPETM Family ofTestability Products• Members of the Texas Instruments WidebusTM Family• Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) TestAccess Port and Boundary-Scan Architecture• SCOPETM Instruction Set• IEEE Standard 1149.1-1990 Required Instructions a;	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18640DL	文件：512.64 Kbytes Page：30 Pages	丝印：ABT18640；Package：SSOP；SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT INVERTING BUS TRANSCEIVERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Members of the Texas Instruments WidebusE Family Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture SCOPE E Instruction Set – IEEE Standard 1149.1-1990 Required Instru 文件：512.64 Kbytes 页数：30 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18640DL.B	文件：512.64 Kbytes Page：30 Pages	丝印：ABT18640；Package：SSOP；SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT INVERTING BUS TRANSCEIVERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Members of the Texas Instruments WidebusE Family Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture SCOPE E Instruction Set – IEEE Standard 1149.1-1990 Required Instru 文件：512.64 Kbytes 页数：30 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18640DGG	文件：400.7 Kbytes Page：30 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT INVERTING BUS TRANSCEIVERS 文件：400.7 Kbytes 页数：30 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18640DL	文件：400.7 Kbytes Page：30 Pages	SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT INVERTING BUS TRANSCEIVERS 文件：400.7 Kbytes 页数：30 Pages	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18640DL	文件：100 bytes Page：1 Pages	Package：56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽）；包装：卷带（TR）剪切带（CT）Digi-Reel® 得捷定制卷带类别：集成电路（IC）专用逻辑器件描述：IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18640DLR	文件：100 bytes Page：1 Pages	Package：56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽）；包装：管件类别：集成电路（IC）专用逻辑器件描述：IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP	TI 德州仪器	TI
SN74ABT18640DLRG4	文件：100 bytes Page：1 Pages	Package：56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽）；包装：管件类别：集成电路（IC）专用逻辑器件描述：IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP	TI 德州仪器	TI

技术参数

VCC(Min)(V)：
4.5
VCC(Max)(V)：
5.5
Bits(#)：
18
Voltage(Nom)(V)：
5
F @ nom voltage(Max)(MHz)：
150
ICC @ nom voltage(Max)(mA)：
38
tpd @ nom Voltage(Max)(ns)：
5.4
IOL(Max)(mA)：
64
IOH(Max)(mA)：
-32
Operating temperature range(C)：
-40 to 85
Package Group：
SSOP

供应商	型号	品牌	批号	封装	库存	备注	价格
深圳市恒科翔业电子有限公司	SN74ABT18640	TI德州仪器	22+		24000	原装正品现货,实单可谈,量大价优	询价
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更多SN74ABT18640供应商更新时间2026-1-28 15:01:00

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