RAD-TOLERANT CLASS V, QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATE

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RAD-TOLERANT, QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATE

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SN54AC00-SP Radiation Hardened Quad 2 Input NAND Gate

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Radiation Hardened Quad 2 Input NAND Gate

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SN54AC00-SP Radiation Hardened Quad 2 Input NAND Gate

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Radiation Hardened Quad 2 Input NAND Gate

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RAD-TOLERANT, QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATE

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RAD-TOLERANT, QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATE

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RadTolerant Class V, Quadruple 2-Input Positive-NAND Gate

此 SN54AC00-DIE 器件包含 4 个独立 2 输入与非门。 每个门在正逻辑中执行布尔函数： Y = A• B or Y = A + B ·2V 至 6V VCC 运行\n ·允许接受输入电压 6V\n ·电压为 5V 时，tpd 最大值为 7ns;

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航天类 4 通道、2 输入、2V 至 6V 与非门

The SN54AC00 device contains four independent 2-input NAND gates. Each gate performs the Boolean function of Y = A • B or Y = A + B in positive logic. • 5962R87549: \n• Radiation Hardness Assurance (RHA) up to TID TID 100 krad (Si)\n• SEL/SEU Immune to 86 MeV\n \n• 5962-87549: \n• Total Ionizing Dose 50 krad (Si)\n \n• 2-V to 6-V VCC Operation\n• Inputs Accept Voltages to 6 V\n• Max tpd of 7 ns at 5 V;

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