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SN54ABT8652JT

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS

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SNJ54ABT8652FK

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS

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SNJ54ABT8652JT

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS

Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Functionally Equivalent to ’F652 and ABT652 in the Normal-Function Mode SCOPE E Instruction Set – IEEE Standard 1149.

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SNJ54ABT8652JT

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS

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详细参数

  • 型号:

    SN54ABT8652JT

  • 制造商:

    TI

  • 制造商全称:

    Texas Instruments

  • 功能描述:

    SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS

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