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SNJ54ABT8652JT	文件：589.09 Kbytes Page：32 Pages	丝印：5962-9461601QXA；Package：CDIP；SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Functionally Equivalent to ’F652 and ABT652 in the Normal-Function Mode SCOPE E Instruction Set – IEEE Standard 1149. 文件：589.09 Kbytes 页数：32 Pages	TI 德州仪器	TI
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更多SNJ54ABT8652JT供应商更新时间2025-10-11 9:05:00