SCANSTA111 Enhanced SCAN Bridge Multidrop Addressable IEEE 1149.1 (JTAG) Port

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德州仪器

SCANSTA111 Enhanced SCAN Bridge

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Enhanced SCAN bridge Multidrop Addressable IEEE 1149.1 (JTAG) Port

文件：524.14 Kbytes 页数：29 Pages

NSCNational Semiconductor (TI)

美国国家半导体美国国家半导体公司

Enhanced SCAN bridge Multidrop Addressable IEEE 1149.1 (JTAG) Port

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增强型 SCAN 桥多点可寻址 IEEE 1149.1 (JTAG) 端口

The SCANSTA111 extends the IEEE Std. 1149.1 test bus into a multidrop test bus environment. The advantage of a multidrop approach over a single serial scan chain is improved test throughput and the ability to remove a board from the system and retain test access to the remaining modules. Each SCANST • True IEEE 1149.1 Hierarchical and Multidrop Addressable Capability\n• The 7 Slot Inputs Support Up to 121 Unique Addresses, an Interrogation Address, Broadcast Address, and 4 Multi-Cast Group Addresses (Address 000000 is Reserved)\n• 3 IEEE 1149.1-Compatible Configurable Local Scan Ports \n• Mode ;

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