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CD4012BEE4中文资料德州仪器数据手册PDF规格书

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厂商型号

CD4012BEE4

功能描述

CMOS NAND GATES

丝印标识

CD4012BE

封装外壳

PDIP

文件大小

1.0201 Mbytes

页面数量

23

生产厂商

TI

中文名称

德州仪器

网址

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数据手册

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更新时间

2025-11-1 15:46:00

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CD4012BEE4规格书详情

Features:

Propagation delay time = 60 ns (typ.) at

CL =50 pF, Vpp = 10V

= Buffered inputs and outputs

= Standardized symmetrical output characteristics

Maximum input current of 1 uA at 18 V

over full package temperature range;

100 nA at 18 V and 25°C

= 100% tested for quiescent current at 20 V

5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings

Noise margin (over full package temperature

range:

1VatVpp=5V

2VatVpp=10V

25VatVpp=15V

Meets all requirements of JEDEC Tentative

Standard No. 138, “Standard Specifications

for Description of “B” Series CMOS Devices”

产品属性

  • 型号:

    CD4012BEE4

  • 功能描述:

    逻辑门 Dual 4-Input

  • RoHS:

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 产品:

    OR

  • 逻辑系列:

    LVC

  • 栅极数量:

    2

  • 线路数量(输入/输出):

    2/1

  • 高电平输出电流:

    - 16 mA

  • 低电平输出电流:

    16 mA

  • 传播延迟时间:

    3.8 ns

  • 电源电压-最大:

    5.5 V

  • 电源电压-最小:

    1.65 V

  • 最大工作温度:

    + 125 C

  • 安装风格:

    SMD/SMT

  • 封装/箱体:

    DCU-8

  • 封装:

    Reel

供应商 型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
TI
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