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SN74ABT18652PMG4.B

丝印:ABT18652;Package:LQFP;SCAN TEST DEVICE WITH 18-BIT TRANSCEIVER AND REGISTER

Member of the Texas Instruments Widebus Family Compatible With IEEE Std 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Includes D-Type Flip-Flops and Control Circuitry to Provide Multiplexed Transmission of Stored and Real-Time Data Two Boundary-Scan Cells Per I/O for

文件:438.5 Kbytes 页数:16 Pages

TI

德州仪器

详细参数

  • 型号:

    ABT18

  • 制造商:

    TI

  • 制造商全称:

    Texas Instruments

  • 功能描述:

    WITH 18-BIT TRANSCEIVER AND REGISTER

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更多ABT18供应商 更新时间2026-1-24 16:30:00