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8V182512IDGGREP中文资料特定功能逻辑 Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device数据手册TI规格书

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厂商型号

8V182512IDGGREP

参数属性

8V182512IDGGREP 封装/外壳为64-TFSOP(0.240",6.10mm 宽);包装为卷带(TR)剪切带(CT)Digi-Reel® 得捷定制卷带;类别为集成电路(IC)的专用逻辑器件;产品描述:IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP

功能描述

特定功能逻辑 Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device

封装外壳

64-TFSOP(0.240",6.10mm 宽)

制造商

TI Texas Instruments

中文名称

德州仪器 美国德州仪器公司

数据手册

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更新时间

2025-9-30 18:35:00

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技术参数

  • 产品编号:

    8V182512IDGGREP

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 类别:

    集成电路(IC) > 专用逻辑器件

  • 包装:

    卷带(TR)剪切带(CT)Digi-Reel® 得捷定制卷带

  • 逻辑类型:

    ABT 扫描测试设备,带通用总线收发器

  • 供电电压:

    2.7V ~ 3.6V

  • 位数:

    18

  • 工作温度:

    -40°C ~ 85°C

  • 安装类型:

    表面贴装型

  • 封装/外壳:

    64-TFSOP(0.240",6.10mm 宽)

  • 供应商器件封装:

    64-TSSOP

  • 描述:

    IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP

供应商 型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
TI
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