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8V182512IDGGREP

3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS

TI1Texas Instruments

德州仪器美国德州仪器公司

8V182512IDGGREP

Package:64-TFSOP(0.240",6.10mm 宽);包装:卷带(TR)剪切带(CT)Digi-Reel® 得捷定制卷带 类别:集成电路(IC) 专用逻辑器件 描述:IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP

TI2Texas Instruments

德州仪器美国德州仪器公司

产品属性

  • 产品编号:

    8V182512IDGGREP

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 类别:

    集成电路(IC) > 专用逻辑器件

  • 包装:

    卷带(TR)剪切带(CT)Digi-Reel® 得捷定制卷带

  • 逻辑类型:

    ABT 扫描测试设备,带通用总线收发器

  • 供电电压:

    2.7V ~ 3.6V

  • 位数:

    18

  • 工作温度:

    -40°C ~ 85°C

  • 安装类型:

    表面贴装型

  • 封装/外壳:

    64-TFSOP(0.240",6.10mm 宽)

  • 供应商器件封装:

    64-TSSOP

  • 描述:

    IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP

供应商型号品牌批号封装库存备注价格
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更多8V182512IDGGREP供应商 更新时间2025-7-24 23:00:00