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8V182512IDGGREP	文件：684.18 Kbytes Page：38 Pages	3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS 文件：684.18 Kbytes 页数：38 Pages	TI 德州仪器	TI
8V182512IDGGREP	文件：300 bytes Page：1 Pages	特定功能逻辑 Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device	TI 德州仪器	TI
8V182512IDGGREP	文件：100 bytes Page：1 Pages	Package：64-TFSOP（0.240"，6.10mm 宽）；包装：卷带（TR）剪切带（CT）Digi-Reel® 得捷定制卷带类别：集成电路（IC）专用逻辑器件描述：IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP	TI 德州仪器	TI

产品属性

产品编号：
8V182512IDGGREP
制造商：
Texas Instruments
类别：
集成电路（IC） > 专用逻辑器件
包装：
卷带（TR）剪切带（CT）Digi-Reel® 得捷定制卷带
逻辑类型：
ABT 扫描测试设备，带通用总线收发器
供电电压：
2.7V ~ 3.6V
位数：
18
工作温度：
-40°C ~ 85°C
安装类型：
表面贴装型
封装/外壳：
64-TFSOP（0.240"，6.10mm 宽）
供应商器件封装：
64-TSSOP
描述：
IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP

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