UCC21222-Q1数据手册TI中文资料规格书

描述 Description

UCC21222-Q1 器件是具有可编程死区时间和宽温度范围的隔离式双通道栅极驱动器。该器件在极端温度条件下表现出一致的性能和稳定性。该器件采用 4A 峰值拉电流和 6A 峰值灌电流来驱动功率 MOSFET、IGBT 和 GaN 晶体管。

UCC21222-Q1 器件可配置为两个低侧驱动器、两个高侧驱动器或一个半桥驱动器。该器件的 5ns 延迟匹配性能允许并联两个输出，能够在重负载条件下将驱动强度提高一倍，而无内部击穿风险。

输入侧通过一个 3.0kVRMS 隔离栅与两个输出驱动器隔离，共模瞬态抗扰度 (CMTI) 的最小值为 100V/ns。

可通过电阻器编程的死区时间可让您调整系统限制的死区时间，从而提高效率并防止输出重叠。其他保护 特性 包括：当 DIS 设置为高电平时，通过禁用功能同时关闭两路输出；集成的抗尖峰滤波器可抑制短于 5ns 的输入瞬变；以及在输入和输出引脚上对高达 -2V 的尖峰进行 200ns 的负电压处理。所有电源都有 UVLO 保护。

特性 Features

• 具有符合 AEC Q100 标准的下列特性：
• 器件温度 1 级
• 器件人体放电模式 (HBM) 静电放电 (ESD) 分类等级 H2
• 器件 CDM ESD 分类等级 C6

• 结温范围为 –40°C 至 150°C
• 可通过电阻器编程的死区时间
• 通用：双路低侧、双路高侧或半桥驱动器
• 4A 峰值拉电流、6A 峰值灌电流输出
• 3V 至 5.5V 输入 VCCI 范围
• 高达 18V 的 VDD 输出驱动电源
• 8V VDD UVLO

• 开关参数：
• 28ns 典型传播延迟
• 10ns 最小脉冲宽度
• 5ns 最大延迟匹配度
• 5.5ns 最大脉宽失真

• TTL 和 CMOS 兼容输入
• 集成抗尖峰滤波器
• I/O 承受 –2V 电压的时间达 200ns
• 共模瞬态抗扰度 (CMTI) 大于 100V/ns
• 隔离栅寿命大于 40 年
• 浪涌抗扰度高达 7800VPK
• 窄体 SOIC-16 (D) 封装
• 安全相关认证（计划）：
• 符合 DIN V VDE V 0884-11:2017-01 和 DIN EN 61010-1 标准的 4242VPK 隔离
• 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 3000VRMS 隔离
• 获得 CSA 认证，符合 IEC 60950-1、IEC 62368-1 和 IEC 61010-1 终端设备标准
• 通过 GB4943.1-2011 CQC 认证