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TW-R50-B128数据手册Turck中文资料规格书
TW-R50-B128规格书详情
特性 Features
• 配置前，标签必须经过在高温下的压力测试。
• 在数据载体上执行如下应力测试：周期温度应力：-40°C下5分钟 - 90°C下5分钟测试周期数：100，过渡期：30秒连续负载：140°C持续100小时
• 这一测试的成功并不代表其适合特定应用，仅仅证明基本的可用性。
• EEPROM，内存大小 128 字节
• 不可直接安装在金属表面
技术参数
- 制造商编号
：TW-R50-B128
- 生产厂家
：Turck
- 存储形式
：EEPROM
- 设计
：硬标签
- 外壳直径
：Ø 50 mm
- 安装
：无金属
- 存储容量
：128 字节
- 用户存储容量
：112 字节
- 外壳材料
：PA6
- 感应面材料
：塑料
- 感应面材质
：黑
- 读/写访问期间的温度（最小）
：-40
- 读/写访问期间的温度（最大）
：85
- 温度超出检测范围（最小）
：-45
- 温度超出检测范围（最大）
：85
- 防护等级
：IP69K
| 供应商 | 型号 | 品牌 | 批号 | 封装 | 库存 | 备注 | 价格 |
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