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TPS7H4104-SEP	文件：3.71197 Mbytes Page：65 Pages	TPS7H410x-SP and TPS7H410x-SEP Radiation-Hardened, 3V to 7V Input, 3A per Channel, Multichannel, Synchronous Buck Converter 1 Features • Total ionizing dose (TID) characterized – Radiation hardness assurance (RHA) availability up to 100krad(Si) • Single-event effects (SEE) characterized – Single-event latchup (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune up to linear energy trans 文件：3.71197 Mbytes 页数：65 Pages	TI 德州仪器	TI
TPS7H4104-SEP	文件：300 bytes Page：1 Pages	抗辐射、3V 至 7V 输入、每通道 3A 四路同步降压转换器 The TPS7H4104 and TPS7H4102 are 7V, 3A per channel, multichannel, peak-current mode, synchronous buck converters optimized for use in area sensitive, space environment applications. The device incorporates four (TPS7H4104) or two (TPS7H4102) identical channels that can be use to step down the power Total ionizing dose (TID) characterized \n \nRadiation hardness assurance (RHA) availability up to 100krad(Si)\n \n\n \nSingle-event effects (SEE) characterized \n \nSingle-event latchup (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune up to linear energy transfer (LET);	TI 德州仪器	TI
TPS7H4104-SP	文件：3.71197 Mbytes Page：65 Pages	TPS7H410x-SP and TPS7H410x-SEP Radiation-Hardened, 3V to 7V Input, 3A per Channel, Multichannel, Synchronous Buck Converter 1 Features • Total ionizing dose (TID) characterized – Radiation hardness assurance (RHA) availability up to 100krad(Si) • Single-event effects (SEE) characterized – Single-event latchup (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune up to linear energy trans 文件：3.71197 Mbytes 页数：65 Pages	TI 德州仪器	TI
PTPS7H4104PAPTSEP	文件：3.71197 Mbytes Page：65 Pages	TPS7H410x-SP and TPS7H410x-SEP Radiation-Hardened, 3V to 7V Input, 3A per Channel, Multichannel, Synchronous Buck Converter 1 Features • Total ionizing dose (TID) characterized – Radiation hardness assurance (RHA) availability up to 100krad(Si) • Single-event effects (SEE) characterized – Single-event latchup (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune up to linear energy trans 文件：3.71197 Mbytes 页数：65 Pages	TI 德州仪器	TI
TPS7H4104MPAPTSEP	文件：3.71197 Mbytes Page：65 Pages	TPS7H410x-SP and TPS7H410x-SEP Radiation-Hardened, 3V to 7V Input, 3A per Channel, Multichannel, Synchronous Buck Converter 1 Features • Total ionizing dose (TID) characterized – Radiation hardness assurance (RHA) availability up to 100krad(Si) • Single-event effects (SEE) characterized – Single-event latchup (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune up to linear energy trans 文件：3.71197 Mbytes 页数：65 Pages	TI 德州仪器	TI

技术参数

Operating temperature range (°C)：
-55 to 125
Topology：
Buck
Type：
Converter
Iout (max) (A)：
3
Vin (min) (V)：
3
Vin (max) (V)：
7
Switching frequency (min) (kHz)：
100
Switching frequency (max) (kHz)：
1000
Features：
4 outputs
Control mode：
current mode
Vout (min) (V)：
0.605
Vout (max) (V)：
6.65
Iq (typ) (µA)：
10000
Duty cycle (max) (%)：
100
封装：
HTQFP (PAP)
引脚：
64
尺寸：
144 mm² 12 x 12

供应商	型号	品牌	批号	封装	库存	备注	价格
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更多TPS7H4104-SEP供应商更新时间2025-10-31 11:17:00

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