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TPS7H3302EVM	文件：2.25949 Mbytes Page：35 Pages	TPS7H3302-SEP Radiation-Tolerant 3-A DDR Termination Regulator 1 Features • Vendor item drawing available, VID V62/22625 • Total ionizing dose (TID) characterized to 50 krad(Si) – TID RLAT (radiation lot acceptance testing) for every wafer lot to 50 krad(Si) • Single-event effects (SEE) characterized – Single event latch-up (SEL), single event burnout 文件：2.25949 Mbytes 页数：35 Pages	TI 德州仪器	TI
TPS7H3302EVM	文件：1.70848 Mbytes Page：37 Pages	TPS7H3302-SP and TPS7H3302-SEP 3-A DDR Radiation Hardened Termination Regulator 1 Features • QMLP TPS7H3302-SP standard microcircuit drawing (SMD) available, 5962R14228 • Space Ehanced Plastic Vendor item drawing available, VID V62/22615 • Total ionizing dose (TID) charactericized – Radiation hardness assured (RHA) qualified up to total ionizing dose (TID) 100 krad(Si) 文件：1.70848 Mbytes 页数：37 Pages	TI 德州仪器	TI
TPS7H3302EVM	文件：1.93888 Mbytes Page：39 Pages	TPS7H3302-SP and TPS7H3302-SEP 3-A DDR Radiation Hardened Termination Regulator 1 Features • QMLP TPS7H3302-SP standard microcircuit drawing (SMD) available, 5962R14228 • Space Ehanced Plastic Vendor item drawing available, VID V62/22615 • Total ionizing dose (TID) charactericized – Radiation hardness assured (RHA) qualified up to total ionizing dose (TID) 100 krad(Si) 文件：1.93888 Mbytes 页数：39 Pages	TI 德州仪器	TI
TPS7H3302MDAPTSEP	文件：2.25949 Mbytes Page：35 Pages	TPS7H3302-SEP Radiation-Tolerant 3-A DDR Termination Regulator 1 Features • Vendor item drawing available, VID V62/22625 • Total ionizing dose (TID) characterized to 50 krad(Si) – TID RLAT (radiation lot acceptance testing) for every wafer lot to 50 krad(Si) • Single-event effects (SEE) characterized – Single event latch-up (SEL), single event burnout 文件：2.25949 Mbytes 页数：35 Pages	TI 德州仪器	TI
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