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TPS7H2211-SP_V02	文件：2.68613 Mbytes Page：49 Pages	TPS7H2211-SP and TPS7H2211-SEP Radiation-Hardness-Assured (RHA) 14-V, 3.5-A eFuse 1Features •Totalionizingdose(TID)characterizedto100 krad(Si) –Radiationhardnessassuranceavailabilityof 100krad(Si) •Single-eventeffects(SEE)characterized –Single-eventlatchup(SEL),single-event burnout(SEB),andsingle-eventgaterupture (SEGR)immunetolinearenergy	TI1Texas Instruments 德州仪器美国德州仪器公司
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更多TPS7H2211-SP_V02供应商更新时间2025-8-2 16:13:00