TPS653850-Q1

适用于安全相关应用微控制器的多轨电源; • 符合汽车应用 标准 \n• 具有符合 AEC-Q100 标准的下列结果：\n - 器件温度等级 1：环境工作温度范围为 –40°C 至+125°C\n• 器件人体放电模型(HBM) ESD 分类等级 2\n• 器件充电模型 (CDM) ESD 分类等级C4B\n• 输入电压范围\n - 电池初始上电电压为 7V 至36V\n• 电池初始上电后的正常运行电压为 3.8V 至 36V\n• 唤醒后的最低运行电压为2.3V\n• 电源轨\n - 具有内部场效应晶体管 (FET) 的 6V同步降压-升压前置稳压器\n• 5V、284mA (CAN) LDO，具有内部 FET\n• 3.3V 或5V、350mA (MCU IO) LDO，具有内部 FET\n• 两个传感器电源 LDO，具有内部FET\n - 传感器电源 1 为 120mA，传感器电源 2 为 60 mA\n• 可配置跟踪模式（跟踪输入引脚）或 3.3V/5V固定输出电压\n• 接地短路和电池保护\n• 电荷泵：最小值 6V，最大值11V（高于电池电压）\n• 监视和保护\n - 独立监控所有稳压器输出、电池电压和内部电源的欠压和过压情况\n• 电压监视电路（包括独立的带隙基准）由单独的电池电压输入引脚供电\n• 针对所有电压监控进行自检（上电期间以及在上电之后由外部MCU 触发）\n• 所有电源均具有限流和过热预警及关断保护\n• 微控制器接口\n - 打开和关闭窗口或问答看门狗功能\n• 锁步MCU 错误信号监视器\n• DIAGNOSTIC 状态，用于辅助执行器件自检和系统诊断\n• SAFE状态，用于检测到错误事件时的器件和系统保护\n• 针对内部振荡器的时钟监视器\n• 模拟与逻辑内置自检\n• 支持对非易失性存储器、器件和系统配置寄存器以及SPI 通信进行循环冗余校验 (CRC)\n• 针对 MCU的复位电路\n• 诊断输出引脚\n• SPI 支持对命令和数据进行 CRC\n• 通过 SPI 寄存器报告系统级和器件级错误\n• 使能驱动输出，可在检测到任意系统故障时禁用外部功率级\n• 通过 IGNITION 引脚或 CAN WAKUP 引脚唤醒\n• 48 引脚散热薄型小外形尺寸 (HTSSOP) PowerPAD™IC 封装\n;

TPS653850-Q1器件一款设计用于为安全相关应用中的 微控制器供电的多轨电源，常用于汽车行业。该器件支持采用双核锁步 (LS) 或松耦合架构(LC) 的微控制器。\nTPS653850-Q1器件集成了多个为 MCU、CAN 或 FlexRay 以及外部传感器供电的电源轨。并且配有一个具有内部 FET的降压-升压转换器，可将 2.3V 至 36V 的输入电池电压转换为 6V 前置稳压器输出，从而为其他稳压器供电。集成电荷泵可为内部稳压器提供过驱电压，而且还可用于驱动外部 NMOS FET以提供电池反向保护。该器件支持通过点火 (IGN) 信号或者 CAN 收发器信号唤醒。\n该器件内部有一个独立的电压监测单元，可监测所有内部电源轨以及电池电源稳压器输出的欠压和过压情况。此外，该器件还实现了稳压器电流限制和过热保护。TPS653850-Q1器件 安全功能包括 问答看门狗、MCU 误差信号监控、针对内部振荡器的时钟监控、针对时钟监控器的自检、针对非易失性存储器和 SPI 通信的循环冗余校验(CRC)、支持 MCU 监测器件内部的模拟和数字信号的诊断输出引脚、针对 MCU 的复位电路、以及可在检测到任何系统故障时禁用外部功率级的使能输出。内置自检 (BIST)可在启动时监控器件功能性。专用的 DIAGNOSTIC 状态可供 MCU 使用以检查 TPS653850-Q1功能性。\nTPS653850-Q1器件还可通过 SPI寄存器报告错误。此器件在 SPI 寄存器中有单独的状态位，用于指示每个特定的系统级或器件级错误。当器件检测到特定错误条件时，可将相应状态位置 1 并保持到 MCU 读取完该状态位所在 SPI寄存器为止。根据置 1 的状态位，MCU 可以决定是否必须使系统保持安全状态或者是否可使系统恢复运行。 \nTPS653850-Q1器件采用 48 引脚散热薄型小外形尺寸 (HTSSOP) PowerPAD IC 封装。\n\n

TPS653850-Q1

Multirail Power Supply for Microcontrollers in Safety-Relevant Applications