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SN74BCT8374ANTG4

Package:24-DIP(0.300",7.62mm);包装:卷带(TR) 类别:集成电路(IC) 专用逻辑器件 描述:IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

TI

德州仪器

SN74C912N

DIP

NS

SN74CB3Q3245PWR

TSSOP-20

SN74CB3Q3253RGYR

QFN16

SN74CB3Q3257DBQR

N/A

产品属性

  • 产品编号:

    SN74BCT8374ANTG4

  • 制造商:

    Texas Instruments

  • 类别:

    集成电路(IC) > 专用逻辑器件

  • 系列:

    74BCT

  • 包装:

    卷带(TR)

  • 逻辑类型:

    扫描测试设备,带 D 型边沿触发式触发器

  • 供电电压:

    4.5V ~ 5.5V

  • 位数:

    8

  • 工作温度:

    0°C ~ 70°C

  • 安装类型:

    通孔

  • 封装/外壳:

    24-DIP(0.300",7.62mm)

  • 供应商器件封装:

    24-PDIP

  • 描述:

    IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

供应商型号品牌批号封装库存备注价格
Texas Instruments
24+
24-PDIP
56200
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DIP-24
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24-DIP(0.300 7.62mm)
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更多SN74BCT8374ANTG4供应商 更新时间2025-11-3 10:03:00